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2.3 本章小結(jié)
本章是信號(hào)完整性的概述,主要分析了影響信號(hào)完整性的主要因素,并介紹了串?dāng)_噪聲(Cross-talk),電遷移(Electromigration),電壓下降(IR Drop), 天線效應(yīng)(Antenna Effect)和接地反彈與襯底耦合(Ground bounce & Underlay coupling)的概念和原理,并且簡(jiǎn)要介紹了解決信號(hào)完整性問(wèn)題的方法。本章給出一個(gè)對(duì)信號(hào)完整性的初步認(rèn)識(shí),了解到深亞微米中信號(hào)完整性問(wèn)題的重要性,并大致說(shuō)明了解決問(wèn)題的著手點(diǎn)。
轉(zhuǎn)貼于 免費(fèi)論文下載中心 http://www.hi138.com 第3章 串?dāng)_
3.1 串?dāng)_的定義
串?dāng)_是相鄰線之間的耦合(cross-couping)電容影響了其中一個(gè)線的信號(hào)完整性的結(jié)果。在邏輯門驅(qū)動(dòng)互連線時(shí),一根互連線一般與幾根相鄰線耦合,它們有垂直方向的和水平方向的。研究時(shí)只關(guān)注同層中相鄰線對(duì)門和線延遲的影響,稱這根互連線為“受害線”,對(duì)它造成影響的線叫“侵害線”。現(xiàn)在新的工藝有更多的金屬層,則耦合電容與地電容之間的比值就加大,其影響就越嚴(yán)重了;同時(shí)在0.25um、0.18um工藝下,器件閾值越小,其噪聲冗余就越小,以往被忽視的串?dāng)_現(xiàn)在不得不考慮。
串?dāng)_的危害很大,由于兩條線之間的耦合電容的影響,侵害線上的變換引起受害線不想要的變換,從而引起電路邏輯失靈,使接受器出現(xiàn)重復(fù)的邏輯變換,從而使受害線上信號(hào)完整性受到破壞[1]。